به گزارش کازرون نما به نقل از دانشگاه نیوز، مقاله کارمند دانشگاه پیام نور کازرون با عنوان بررسی لایه های Al2O3 Co Cr Pt با استفاده از روش مگنترون و اندازه گیری پسماند مغناطیسی در همایش ملی مهندسی فیزیک پلاسما پذیرفته شد.

محمدجعفر شفیعی در این خصوص اظهار داشت: لایه نازک اکسید آلومینیوم یک عایق گرمایی و الکتریکی عالی است که از چسبندگی بسیارخوب و شفافیت بالا، ضریب شکست و جذب بسیار کم در ناحیه نور مرئی برخوردار است.

وی با بیان اینکه در این ناحیه از تحقیقات، راهکارهای افزایش حافظه کامپیوترها مطالعه می شود، افزود: شرکت های بزرگی همچون IBM و GEبا هدف افزایش تراکم داده ها بر روی دیسک های سخت به طور مشترک بر روی طرحی کهpattern media نامیده می شود، کار می کنند.

شفیعی اظهار داشت: آنها با مجزا کردن دانه های مغناطیسی روی دیسک می توانند ظرفیت ذخیره سازی 30 تا 40 مگابایت بر سانتیمترمربع را نوید دهند. وی تأکید نمود: راه رسیدن به چنین نتایجی در کاهش اندازه دانه های مغناطیسی و همچنین با مجزا کردن این دانه ها با افزایش وادارندگی مغناطیسی و همین طور افزایش مغناطیس پسماند منجر می شود.