پذیرش مقاله کارمند دانشگاه پیام نور کازرون در همایش ملی مهندسی فیزیک پلاسما

مقاله کارمند دانشگاه پیام نور کازرون با عنوان بررسی لایه های Al2O3 Co Cr Pt با استفاده از روش مگنترون و اندازه گیری پسماند مغناطیسی در همایش ملی مهندسی فیزیک پلاسما پذیرفته شد.

کد خبر: ۱۰۵۶۲

تاریخ: ۰۲ مرداد ۱۳۹۲ - ۱۵:۴۳

به گزارش کازرون نما به نقل از دانشگاه نیوز، مقاله کارمند دانشگاه پیام نور کازرون با عنوان بررسی لایه های Al2O3 Co Cr Pt با استفاده از روش مگنترون و اندازه گیری پسماند مغناطیسی در همایش ملی مهندسی فیزیک پلاسما پذیرفته شد.

محمدجعفر شفیعی در این خصوص اظهار داشت: لایه نازک اکسید آلومینیوم یک عایق گرمایی و الکتریکی عالی است که از چسبندگی بسیارخوب و شفافیت بالا، ضریب شکست و جذب بسیار کم در ناحیه نور مرئی برخوردار است.

وی با بیان اینکه در این ناحیه از تحقیقات، راهکارهای افزایش حافظه کامپیوترها مطالعه می شود، افزود: شرکت های بزرگی همچون IBM و GEبا هدف افزایش تراکم داده ها بر روی دیسک های سخت به طور مشترک بر روی طرحی کهpattern media نامیده می شود، کار می کنند.

شفیعی اظهار داشت: آنها با مجزا کردن دانه های مغناطیسی روی دیسک می توانند ظرفیت ذخیره سازی 30 تا 40 مگابایت بر سانتیمترمربع را نوید دهند. وی تأکید نمود: راه رسیدن به چنین نتایجی در کاهش اندازه دانه های مغناطیسی و همچنین با مجزا کردن این دانه ها با افزایش وادارندگی مغناطیسی و همین طور افزایش مغناطیس پسماند منجر می شود.

گفتنی است این همایش در خردادماه سال جاری در دانشگاه شهیدبهشتی تهران برگزار شد.